Thermal Testing of Integrated Circuits
Wersja papierowa
Autor:
Altet Josep
Wydawnictwo:
Springer Nature B.V.ISBN: 978-14-419-5287-5
Format: 15.6x23.4cm
Liczba stron: 226
Oprawa: Miękka
Wydanie: 2011 r.
Język: angielski
Dostępność: dostępny
445,00 zł
<P>Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. In this book, the authors present the feasibility of considering temperature as an observable for
testing purposes, with full coverage of the state of the art.</P>
