Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Wersja papierowa
Autor:
Nicolici Nicola
Wydawnictwo:
Springer Nature B.V.ISBN: 978-14-419-5315-5
Format: 15.6x23.4cm
Liczba stron: 192
Oprawa: Miękka
Wydanie: 2010 r.
Język: angielski
Dostępność: dostępny
445,50 zł
<P>This text focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. It surveys existing techniques and
presents several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths. </P>
