VLSI-SoC
Design for Reliability, Security, and Low Power : 23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015, Daejeon, Korea, October 5-7, 2015, Revised Selected Papers
Wersja papierowa
Redakcja:
Shin Youngsoo
Wydawnictwo:
Springer Nature B.V.ISBN: 978-33-19-46098-7
Format: 15.6x23.4cm
Liczba stron: 240
Oprawa: Miękka
Wydanie: 2016 r.
Język: angielski
Dostępność: dostępny
160,20 zł